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半导体微量光子检测显微镜

简要描述:半导体微量光子检测显微镜
微光显微镜是捕获半导体器件缺陷或失效点发射
微量光子的一种无损检测设备。在电激励作用下,电
子-空穴对或高能热载子以光子的形式释放出多余动
能。根据此原理,利用高增益低噪声的相机就能精确
定位到缺陷位置。EMMI系统C主要适用于PN结漏电、氧化层崩溃、
静电放电破坏、闩锁效应、碰撞电离和雪崩击穿等多
种物理场景。

  • 产品型号:HOTMOS-1000
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-05-15
  • 访  问  量:2219

详细介绍

品牌其他品牌产地类别进口
应用领域医疗卫生,化工,能源,电子,航天

半导体微量光子检测显微镜

半导体微量光子检测显微镜


产品特征参数


软件图像处理功能

 

8寸高压手动气浮探针台



 

紫外、可见光、红外显微光学系统

2倍、5倍、10倍、20倍与50倍红外物镜

400 -1000 nm 900-1700 nm响应波长

支持3000 V高压偏置

相机与源表的一体化控制程序

 

应用方向

GaNSiC 基功率器件

的漏电“热点"定位

GaNLEDs与结型探测

器的漏电“热点"定位

SiMOSFETIGBT等功

率器件的漏电失效“热

点"定位

GaAs基激光器光分布与

漏电“热点"定位

常规的器件的静态电学

参数测试。

相关系列有关于芯片失效与缺陷检测都可以联系我司,可看样机测试









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